HCP621G-PM
微型变温探针台
产品简介：
HCP621G-PM可单独使用，也可搭配显微镜/光谱仪使用。其可在 -190℃ ~ 600℃ 范围内控温，同时允许探针电测试、光学观察和样品气体环境控制。探针台上盖与底壳构成一个气密腔，可往内充入氮气等保护气体，来防止样品在负温下结霜，或高温下氧化，此外另有真空腔型号HCP421V-PM提供,可升级特殊场景拓展能力非磁性改造选项台体可改用非磁性材料，支持变温霍尔效应测试（如磁性半导体材料研究）。功能特点
迷你温控探针台，可用于显微镜/光谱仪
-190℃~600℃ 可编程控温（负温需配液氮制冷系统）
负温段需配置液氮制冷系统，高温段采用PID控温算法保障稳定性
配置吹气除霜管路，保障低温光学观察清晰度
可充入保护气体的气密腔（另有真空腔型号）
SMA接头转BNC四探针，手动点针
可选三同轴接口，用于p测试
可选增设腔内接线柱（样品接电引线）
提供软件SDK，支持温控器或PC端编程控制，适配自动化测试流程
-190℃~600℃ 可编程控温（负温需配液氮制冷系统）
负温段需配置液氮制冷系统，高温段采用PID控温算法保障稳定性
配置吹气除霜管路，保障低温光学观察清晰度
可充入保护气体的气密腔（另有真空腔型号）
SMA接头转BNC四探针，手动点针
可选三同轴接口，用于p测试
可选增设腔内接线柱（样品接电引线）
提供软件SDK，支持温控器或PC端编程控制，适配自动化测试流程
温控参数
| 温度范围 | -190℃~600℃ |
| 传感器/温控方式 | 100Ω铂RTD / PID控制（含LVDC降噪电源） |
| 加热/制冷速度 | +0.01℃/min ~ +150℃/min |
| 温度显示分辨率 | 0.001℃ |
| 温度稳定性 | ±0.05℃（>25℃），±0.1℃（<> |
| 软件功能 | 可设温控速率，可设温控程序，可记录温控曲线 |
| 加热区/样品区 | Φ26mm |
| 适用光路 | 反射（可选择透射/反射兼容） |
| 探针 | 铼钨材质（可选 镀金 铍铜） |
探针座 | 杠杆式探针支架，点针力度更大，电接触性更好 |
| 点针 | 手动点针，每个探针座都可点到样品区上任意位置 |
| 探针接口 | SMA接头转BNC *可选三同轴接口用于p测试 *可增设腔内接线柱（样品接电引线） |
| 样品台面电位 | 电接地*可选电悬空（作背电极）*可选三同轴接口 |
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