热膨胀系数分析仪
热特性系列
产品简介：
热膨胀系数分析仪TEA 采用创新的光干涉原理技术，可无损检测块体和薄膜样品的热膨胀系数，广泛应用于辅助各种新材料，尤其是薄膜材料的研究与开发以及质量检验。功能特点
自主知识产权产品，拥有多项技术；
基于光干涉原理的创新技术；
采用 PID 调节与模糊控制相结合形式控制的红外加热方式，大温区连续、高速温度跟随、既定程序升温及保持控制；
非接触式无损检测，测试精度高；
具备外接抽真空设备、循环水冷设备及载气或制冷能力；
基于光干涉原理的创新技术；
采用 PID 调节与模糊控制相结合形式控制的红外加热方式，大温区连续、高速温度跟随、既定程序升温及保持控制；
非接触式无损检测，测试精度高；
具备外接抽真空设备、循环水冷设备及载气或制冷能力；
技术参数
温度范围 | RT~1200℃ |
程序升温重复性/速率偏差 | ＜1.0%（10℃/s，中间段） |
热膨胀系数测量精度 | ＜±4.5% |
升温速度 | 50 ℃/s |
温场一致性 | ≤1% |
真空 | 5Pa（机械泵） 5*10-2pa（分子泵） |
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